《单片机原理》考试范围
参考书：
胡乾斌，《单片微型计算机原理与应用》，2006年，华中科技大学
考试范围：
第一章：概述1.1—1.4，1.6
重点：计算机中的数和编码
第二章：单片机的内部结构
重点：2.2 CPU
2.5 MCS-51的存储器结构
第三章：指令系统
重点：3.2 寻址方式
3.3.1 数据传送
3.3.2 算术运算
3.3.4 控制转移
第四章：汇编语言程序设计
重点：4.2.3 分支程序
4.2.4 循环程序
第五章：存储器 5.1，5.4，5.5
重点：存储器的扩展
第六章：中断系统6.1 6.2
重点：基本概念和应用
第八章：定时器/计数器
8.1 MCS-51的定时器
第九章中的9.1节
《光电技术》考试范围
教材：江文杰，曾学文，《光电技术》，科学出版社，第二版
考试范围：1-10章，
重点复习第一章1.1&1.3、第二章2.1、三～六章、第7章7.3、第8章8.1～8.3、第9章9.1～9.2、第10章10.2～10.3内容。
《激光技术》考试范围
参考书：《激光技术》第二版，蓝信钜等编，科学出版社，2005.1
考试范围：第一章 激光调制与偏转技术
第二章 调Q(Q开关技术)
第四章 激光放大技术
《微电子器件与IC设计》考试范围
1. 教材：《微电子器件与IC设计基础》，刘刚等编，第二版
2. 考试内容：
第二章 PN结的基本概念和公式
第三章 双极晶体管
第五章 MOSFET
其中，第三章和第五章是重点。
《电子材料物理》考试范围
一、考试内容
考试内容包括：电子材料的结构、缺陷与相变；材料的电导性质；材料的介电性能；材料的磁学性能；材料的光学性质。
二、参考书目：
吕文中 汪小红 范桂芬 《电子材料物理》（第二版），科学出版社
三、考查要点
1 电子材料的结构、缺陷与相变
晶体的结构与对称性、典型晶体的结构、鲍林规则、晶体场理论、点缺陷的形成、缺陷扩散机制、缺陷反应方程式、固溶体、相变、相律、相图。
2 材料的电导性质
电子电导、离子电导的概念、特点、影响因素及计算，界面、表面效应
3 材料的介电性质
材料的极化类型与特点，克劳修斯-莫索缔方程，德拜方程、自发极化、电滞回线、铁电体、压电效应与热释电效应
4 材料的磁学性质
磁性的起源，磁性的分类与特点，磁矩及饱和磁化强度的计算，磁畴、磁滞回线，静态磁化与动态磁化，旋磁性与铁磁共振，磁电效应、磁光效应
5 材料的光学性质；
光与物质的相互作用，物质的折射率与色散，介质的透光性，材料中的光发射，介质中的光学效应
