网站旧版 | 学校首页 | 中文版 | English

AFM原子力显微镜

作者: 时间:2017-06-19 点击数:

AFM图片

设备名称

原子力显微镜

设备简介

该仪器配备了tapping,contact,cafm,pfm,mfm等测试模块,可以测量样品的表面形貌,电导率分布,电畴和磁畴等信息,主要用于形貌测试。该仪器配备了超大样品台,对于尺寸较大的样品也可以测试。型号:Bruker Dimension Edge

技术参数

1. 样品尺寸限制:1cmx 1cm <样品< 15cm x 15cm

2. 扫描范围:横向100X100μm,垂直1μm

3. 分辨率:横向1um x 1um清晰形貌图;垂直1nm

4. 粗糙度要求:样品表面起伏不能超过1um

注意事项

1.特殊模块需要导电针或者磁性探针,可以自带,也可以使用平台的探针;

2.使用结束请如实登记使用机时和设备状况

3.还有疑问请咨询设备管理员

华中科技大学  光学与电子信息学院  联系电话:027-87558726  邮编:430074 地址:中国•湖北省武汉市珞喻路1037号 华中科技大学南五楼六楼